CN UNM 20 - Optique et photonique - UNM - Union de Normalisation de la Mécanique

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Les commissions de normalisation

UNM 20 – Optique et photonique

Président :

Catherine

LUBINEAU

Secrétariat UNM :

Karine

LAMARCQ

Domaine d'activité :

Activité

Sources lasers et applications laser, composants optiques, réseaux de micro-lentilles, optique intégrée, microscopes, télescopes et instruments géodésiques A l'exclusion de l'optique ophtalmique et des lasers médicaux

Secteurs d'application

Tous secteurs à l'exclusion du médical

Aspects couverts

Tous aspects: normes fondamentales d’optique, indications sur les dessins, méthodes d'essai, traitements de surface, sécurité

Informations complémentaires

Suivi des travaux européens (CEN/TC 123) et internationaux (ISO/TC 172 à l'exception de l'ISO/TC 172/SC 7).

Liste des instances ISO et CEN dont la commission assure le suivi

Type	Référence	Titre
CEN	TC 123	Lasers et photonique
ISO	TC 172	Optique et photonique
ISO	TC 172/AHG	AR/VR en relation avec l'ISO/TC 172
ISO	TC 172/SC 1	Normes fondamentales
ISO	TC 172/SC 1/AHG 1	NODIF et PLIB
ISO	TC 172/SC 1/WG 1	Méthodes d'essais optiques générales
ISO	TC 172/SC 1/WG 2	Préparation de dessins pour éléments et systèmes optiques
ISO	TC 172/SC 1/WG 3	Méthodes d'essais relatives à l'environnement
ISO	TC 172/SC 3	Matériaux et composants optiques
ISO	TC 172/SC 3/WG 1	Verre optique brut
ISO	TC 172/SC 3/WG 2	Traitements
ISO	TC 172/SC 3/WG 3	Caractérisation des matériaux IR
ISO	TC 172/SC 4	Systèmes télescopiques
ISO	TC 172/SC 4/WG 2	Viseurs de tir
ISO	TC 172/SC 5	Microscopes et endoscopes
ISO	TC 172/SC 5/WG 10	Systèmes à microscope
ISO	TC 172/SC 5/WG 3	Termes et définitions
ISO	TC 172/SC 5/WG 6	Endoscopes
ISO	TC 172/SC 5/WG 9	Performances optiques des composants des microscopes
ISO	TC 172/SC 6	Instruments géodésiques et d'observation
ISO	TC 172/SC 6/WG 3	Modes opératoires de laboratoire permettant de soumettre à l'essai les instruments d'observation et les instruments utilisés dans le domaine de la construction
ISO	TC 172/SC 6/WG 4	Méthodes sur site et dispositifs auxiliaires
ISO	TC 172/SC 9	Systèmes à microscope
ISO	TC 172/SC 9/JWG 3	GT mixte ISO/TC 172/SC 9-IEC/TC 76: Sécurité
ISO	TC 172/SC 9/WG 1	Terminologie et méthodes d'essai pour les lasers
ISO	TC 172/SC 9/WG 7	Systèmes électro-optiques autres que les lasers

Référence CEN/ISO	Titre
ISO 19644	Endoscopes - Détermination de la capacité de distinction de la différence de couleur et des propriétés de réduction de couleur
ISO/TS 22247	Optique et photonique - Ouverture numérique efficace des lentilles laser - Définition et procédure de vérification
ISO 23364	Optique et photonique - Filtres optiques à absorption de masse
ISO 9336-3	Optique et instruments d'optique - Fonction de transfert optique - Application - Partie 3: Télescopes
ISO 9022-3/A1	Optique et photonique - Méthodes d'essais d'environnement - Partie 3: Contraintes mécaniques -- Amendement 1
ISO 23701	Optique et photonique - Lasers et équipements associés aux lasers - Technique photothermique pour la mesure et la cartographie de l'absorption des composants laser optiques
ISO 13142	Optique et photonique - Lasers et équipement associé aux lasers - Méthode d'alternance de la cavité pour le mesurage du facteur de réflexion et du facteur de transmission
ISO 21395-2	Optique et photonique - Méthode d'essai pour l'indice de réfraction des verres optiques - Partie 2 : Méthode du réfractomètre à blocs en V
ISO 14490-10	Optique et photonique - Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques - Partie 10: Méthodes d'essai pour la performance de couleur axiale
ISO 10934	Microscopes - Vocabulaire relatif à la microscopie optique
ISO 18340	Endoscopes - Mandrins de trocart, fourreaux de trocart et dispositifs d'endothérapie à utiliser avec des fourreaux de trocart
ISO 19056-3	Microscopes - Définition et mesure des caractéristiques d'éclairement -- Partie 3 : Microscopie par fluorescence à lumière incidente avec sources lumineuses incohérentes
ISO 14490-3	Optique et photonique - Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques - Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir
ISO 14135-1	Optique et photonique - Spécifications pour lunettes de pointage - Partie 1: Instruments pour usage général
ISO 14135-2	Optique et photonique - Spécifications pour lunettes de pointage - Partie 2: Instruments haute performance
ISO 19012-4	Microscopes - Désignation des objectifs de microscope - Partie 4: Caractéristiques de polarisation
ISO 9022-3	Optique et photonique - Méthodes d'essais d'environnement - Partie 3: Contraintes mécaniques
ISO 10109	Optiques et photonique - Directives relatives au choix des essais environnementaux
ISO 10934	Microscopes - Vocabulaire relatif à la microscopie optique
ISO 6913	Signal sur bruit pour la mesure de la résolution en microscopie confocale
ISO 9358	Optique et photonique - Éblouissement, lumière parasite et reflets fantômes
ISO 6760-1	Optique et photonique - Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques - Partie 1 : Méthode de la déviation minimale
ISO 6760-2	Optique et photonique - Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques - Partie 2 : Interférométrie
ISO 19646	Endoscopes - Détermination de l'effet relatif de la photométrie des bords
ISO 8237	Optique et photonique - Matériaux et composants optiques - Spécification des verres de chalcogénure utilisés dans le spectre infrarouge
ISO 11382	Optique et photonique - Matériaux et composants optiques - Caractérisation des matériaux optiques utilisés dans la bande spectrale infrarouge de 0,78 µm à 25 µm
ISO 18221	Microscopes — Microscopes avec écrans d'affichage numérique — Informations fournies à l'utilisateur concernant la performance d'affichage
ISO 9907	Normalisation des microscopes stéréo digitaux et OP
ISO 14133-1	Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 1: Instruments d'usage général
ISO 14133-2	Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 2: Instruments haute performance
ISO 9022-23	Optique et photonique - Méthodes d'essais d'environnement - Partie 23: Basse pression combinée à la température ambiante et froide et à la chaleur sèche ou humide
ISO 9022-2/A1	Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité — Amendement 1
ISO 9022-4/A1	Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin — Amendement 1
ISO 17123-11	Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai sur site des instruments géodésiques et d'observation — Partie 11: Instruments GNSS
ISO 11553-2	Sécurité des machines - Machines à laser - Partie 2 : Exigences de sécurité pour dispositifs de traitement laser portatifs (WI:00123112)
ISO 9211-1	Optique et photonique - Traitements optiques - Partie 1: Vocabulaire
ISO 9211-2	Optique et photonique - Traitements optiques - Partie 2: Propriétés optiques
ISO 9211-3	Optique et photonique - Traitements optiques - Partie 3 : Durabilité environnementale
ISO 10110-11	Optique et photonique - Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques - Partie 11: Données non tolérancées
ISO 10110-5	Optique et photonique - Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques - Partie 5 : Tolérances de forme de surface
ISO 14999-4	Optique et photonique - Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques - Partie 4 : Interprétation et évaluation des tolérances spécifiées dans l’ISO 10110
ISO 9689	Verre d'optique brut - Résistance à l'attaque par des solutions aqueuses de détergent contenant du phosphate alcalin à 50°C - Essai et classification
ISO 7944	Optique et instruments d'optique - Longueurs d'onde de référence (WI:00170312)
ISO 21254-1	Lasers et équipements associés aux lasers - Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser - Partie 1 : Définitions et principes de base (WI:00123114)
ISO 21254-2	Lasers et équipements associés aux lasers - Méthode d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser - Partie 2 : Détermination du seuil (WI:00123097)
ISO 21254-3	Lasers et équipements associés aux lasers - Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser - Partie 3 : Possibilités de traitement par puissance (énergie) laser (WI:00123098)
ISO 11670	Lasers et équipements associés aux lasers - Méthodes d'essai des paramètres du faisceau laser - Stabilité de visée du faisceau
ISO 14880-2	Optique et photonique - Réseaux de microlentilles - Partie 2 : Méthodes d'essai pour les aberrations du front d'onde (WI:00123115)
ISO 14880-3	Optique et photonique - Réseaux de microlentilles - Partie 3: Méthodes d'essai pour les propriétés optiques autres que les aberrations du front d'onde (WI:00123116)
ISO 14880-4	Optique et photonique -- Réseaux de microlentilles -- Partie 4: Méthodes d'essai pour les propriétés géométriques (WI:00123117)
ISO 10110-6	Optique et photonique - Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques - Partie 6: Tolérances de centrage et d'inclinaison

Une question sur les travaux de cette Commission ? Envie de participer à ses travaux ?
Contactez le secrétariat UNM ou utilisez le formulaire de contact.

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